Атомный микроскоп на службе IBM

Фирма IBM представила новый метод прямой обработки подложек при помощи атомного микроскопа (atomic force microscope, AFM).

�� ��анном ��етод�� ��икроскоп ��спользуется �� ��иде ��ппарата, ��правляющего �� ��онтролирующего ��роцесс ��итографической ��бработки ��а ��олекулярном ��ровне. ��радиционным ��пособом ��аблюдения ��ри г��убоком ��онном ��недрении ��вляется ��воеобразное " ��рощупывание " ��оверхности, ��о ��етод�� IBM ��адзор ��удет ��существляться ��охожим ��а ��труйные ��ри��теры ��етод��м.

��дной ��итографией ��ри��ладная ��торона ��азработки IBM ��е ��граничивается. ��о ��анным ��осланника ��рганизации, ��анный ��етод ��удет ��олезен ��ля ��ных " ��ано " ��стройств, ��ачиная ��т ��стройств ��ля ��асшифровки ��НК, ��аканчивая ��ри��орами ��ля ��бычных ��естов ��рови. У��учшенный ��адзор �� ��величенная ��езвость ��бработки ��аст ��озможность ��скорить ��тделение ��иологических ��олекул ��о ��ножестве ��едицинских ��адач. �� ��ри��еру, IBM ��змерила ��езвость ��лектрофореза, ��оторая ��казалась �� 100000 ��аз ��ыстрее, ��ем ��беспечиваемая ��радиционными ��етод��ми.

��орядок ��ифр ��змеряется ��иллисекундами. ��сли ��ернуться �� ��олупроводниковой ��еме, ��о ��озиционирование ��ри ��омощи ��томного ��икроскопа ��аст ��озможность ��оздавать ��труктуры ��олее ��ем �� 5 ��аз ��еньше, ��о ��опоставлению �� ��радиционной ��итографией.

��томный ��икроскоп ��ыл ��зобретен ��обелевскими ��ауреатами ��ердом ��иннингом (Gerd Binnig) �� ��айнрихом ��орером (Heinrich Rohrer), ��аботающими �� ��сследовательской ��аборатории ��. ��юрих, ��ри��адлежащей г��лубому г��ганту .